SonyメーカーCDP-CE275の使用説明書/サービス説明書
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SERVICE MANUAL COMP ACT DISC PLA YER US Model Canadian Model A ustralian Model CDP-CE275/CE375 AEP Model UK Model E Model CDP-CE375 SPECIFICA TIONS CDP-CE275/CE375 Photo: CDP-CE375 Model Name Using Similar Mechanism CDP-CE345 CD Mechanism T ype CDM59-5BD27 Base Unit Name BU-5BD27 Optical Pick-up Name PXR-104X V er 1.
10 CDP-CE275/CE375 SECTION 4 TEST MODE ADJ MODE NO TE: This mode cannot be performed without a general remote com- mander . 1. Chuck the CD first, and then turn OFF the po wer . 2. Short-circuit the test point TP1 (ADJ) of the MAIN board and ground with a lead wire.
11 CDP-CE275/CE375 Buttons and Corresponding Button Numbers Button Button Number or Displa y DISC1 12 DISC2 11 DISC3 10 DISC4 9 DISC5 8 PLA Y MODE 20 PEAK SEARCH 19 F ADER 18 REPEA T 17 TIME 16 H (PLA.
12 CDP-CE275/CE375 A GING MODE For the aging mode, three modes of all mode, disc table mode, and loading mode are av ailable. This set has the Aging mode for operation check of the mechanism deck. • If a failure occurred The aging operation stops and a faulty status is displayed on the fluorescent indicator tube.
13 CDP-CE275/CE375 Ver 1.1 2001.07 Note: 1. CD Block is basically designed to operate without adjustment. There- fore, check each item in order giv en. 2. Use P A TD-012 disc (4-225-203-01) unless otherwise indicated. 3. Use an oscilloscope with more than 10M Ω impedance.
14 CDP-CE275/CE375 Ver 1.1 2001.07 E-F Balance Chec k Connection: Procedur e: 1. Set the test disc (P A TD-012). Disc chucking operation is complete, then press the [POWER] button to turn the po wer off. 2. Connect an oscilloscpe to test point TP (TE1) and TP (VC) on the BD board.
15 15 CDP-CE275/CE375 SECTION 6 DIA GRAMS 6-1. NOTE FOR PRINTED WIRING BO ARDS AND SCHEMA TIC DIA GRAMS Note on Schematic Diagram: • All capacitors are in µF unless otherwise noted. pF: µµF 50 WV or less are not indicated except for electrolytics and tantalums.
17 17 CDP-CE275/CE375 6-3. SCHEMA TIC DIA GRAM – BD Board – • See page 24 for W aveforms. • See page 24 for IC Bloc k Diagrams. The components identified by mark 0 or dotted line with mark 0 are critical for saf ety . Replace only with part number specified.
19 19 CDP-CE275/CE375 6-5. SCHEMA TIC DIA GRAM – JUNCTION/SENSOR/LO ADING MO T OR Boards – • See page 25 for IC Bloc k Diagram. TO MAIN BOARD (Page 21) IC BD.
21 21 CDP-CE275/CE375 6-7. SCHEMA TIC DIA GRAM – MAIN Board – • See page 24 for Wa veform. The components identified by mark 0 or dotted line with mark 0 are critical for saf ety . Replace only with part number specified. Les composants identifiés par une marque 0 sont critiques pour la sécurité.
23 23 CDP-CE275/CE375 6-9. SCHEMA TIC DIA GRAM – P ANEL Section – The components identified by mark 0 or dotted line with mark 0 are critical for saf ety . Replace only with part number specified. Les composants identifiés par une marque 0 sont critiques pour la sécurité.
デバイスSony CDP-CE275の購入後に（又は購入する前であっても）重要なポイントは、説明書をよく読むことです。その単純な理由はいくつかあります：
Sony CDP-CE275をまだ購入していないなら、この製品の基本情報を理解する良い機会です。まずは上にある説明書の最初のページをご覧ください。そこにはSony CDP-CE275の技術情報の概要が記載されているはずです。デバイスがあなたのニーズを満たすかどうかは、ここで確認しましょう。Sony CDP-CE275の取扱説明書の次のページをよく読むことにより、製品の全機能やその取り扱いに関する情報を知ることができます。Sony CDP-CE275で得られた情報は、きっとあなたの購入の決断を手助けしてくれることでしょう。
Sony CDP-CE275を既にお持ちだが、まだ読んでいない場合は、上記の理由によりそれを行うべきです。そうすることにより機能を適切に使用しているか、又はSony CDP-CE275の不適切な取り扱いによりその寿命を短くする危険を犯していないかどうかを知ることができます。
ですが、ユーザガイドが果たす重要な役割の一つは、Sony CDP-CE275に関する問題の解決を支援することです。そこにはほとんどの場合、トラブルシューティング、すなわちSony CDP-CE275デバイスで最もよく起こりうる故障・不良とそれらの対処法についてのアドバイスを見つけることができるはずです。たとえ問題を解決できなかった場合でも、説明書にはカスタマー・サービスセンター又は最寄りのサービスセンターへの問い合わせ先等、次の対処法についての指示があるはずです。
