DellメーカーJSM-6060LVの使用説明書/サービス説明書
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JEOL JSM-6060L V SCANNING ELECTR ON MICR OSCOPE Insert Nickname Her e Operating Instr uctions.
JEOL JSM-6060LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 1 T able of Contents 1 INTRODUCTION Safety 3 2 BACKGROUND Background Inf ormation 4 References 4 3 SAMPLES Sample Holders 7 Sample Preparation 7 4 OPERATIO.
JEOL JSM-6060LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 2 Introduction he JEOL JSM-6060LV is a sta te-of-the-art scanning electron microscope that features a low vacuum for observation of non-conductive specimen.
JEOL JSM-6060LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 3 Background The scanning electron microscope (SEM) is one of the most versatile instruments for the examination and analysis of the microstructural ch aracteristics of solids.
JEOL JSM-6060LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 4 Figure 2. Schematic illustration of SEM electron The basic components of a SEM are the vacuum system, electron gun, lens system, electron detector, imaging system, and the electronics asso ciate d with these components.
JEOL JSM-6060LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 5 Samples he JEOL JSM-6060LV in stan dard high vacuum operatin g mode can handle a variety of sample types. The low vacuum mode enables the instrument to handle non- conductive samples, including organic materia ls (polymers, etc.
JEOL JSM-6060LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 6 2. Remove excess lint, dust, moisture, and other debr is from your specimen, unless you want to examine those things. 3. Use the sputter coater to create a conductive gold coating on the surface of your sample.
JEOL JSM-6060LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 7 Instrument Operation his section will walk you through the basic operation of the scanning electron microscope.
JEOL JSM-6060LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 8 6. Close the chamber door by gently pushing it fo rward until it stops. 7. Press and hold the EVAC button (on the front of the instrument) until it lights up green. 8. WAIT for evacuation of the chamber (about 1 minut e).
JEOL JSM-6060LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 9 3. Tilt. Turn the knob at the lower right side of the chamber d oor assembly to tilt your specimen. BE CAREF UL when adjusting the sample tilt – you don’t want to run your sample into anything inside the column.
JEOL JSM-6060LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 10 Photography cquiring an image from the SEM is relative ly easy, but there are quite a few options for live image scanning and corresponding image resolution.
JEOL JSM-6060LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 11 4. Once the image is frozen, click the Save button above the image, select a save directory, type a filename, select a fi le format, and click Save . Higher R esolution (slow er) Photos 1. Press the green Scan2 button on the toolbar.
デバイスDell JSM-6060LVの購入後に(又は購入する前であっても)重要なポイントは、説明書をよく読むことです。その単純な理由はいくつかあります:
Dell JSM-6060LVをまだ購入していないなら、この製品の基本情報を理解する良い機会です。まずは上にある説明書の最初のページをご覧ください。そこにはDell JSM-6060LVの技術情報の概要が記載されているはずです。デバイスがあなたのニーズを満たすかどうかは、ここで確認しましょう。Dell JSM-6060LVの取扱説明書の次のページをよく読むことにより、製品の全機能やその取り扱いに関する情報を知ることができます。Dell JSM-6060LVで得られた情報は、きっとあなたの購入の決断を手助けしてくれることでしょう。
Dell JSM-6060LVを既にお持ちだが、まだ読んでいない場合は、上記の理由によりそれを行うべきです。そうすることにより機能を適切に使用しているか、又はDell JSM-6060LVの不適切な取り扱いによりその寿命を短くする危険を犯していないかどうかを知ることができます。
ですが、ユーザガイドが果たす重要な役割の一つは、Dell JSM-6060LVに関する問題の解決を支援することです。そこにはほとんどの場合、トラブルシューティング、すなわちDell JSM-6060LVデバイスで最もよく起こりうる故障・不良とそれらの対処法についてのアドバイスを見つけることができるはずです。たとえ問題を解決できなかった場合でも、説明書にはカスタマー・サービスセンター又は最寄りのサービスセンターへの問い合わせ先等、次の対処法についての指示があるはずです。