CypressメーカーCY7C1306BV25の使用説明書/サービス説明書
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18-Mbit Burst of 2 Pipelined SRAM with Q DR™ Ar c hi tectu r e CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Cypress Semiconductor Corpora tion • 198 Champion Cou rt • San Jose , CA 95134-1 709 • 408-943-2 600 Document #: 38-05627 Rev .
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 2 of 19 512Kx18 CLK A (18:0) Gen. K K Control Logic Address Register D [17:0] Read Add. Decode Read Data Reg. RPS WPS Q [17:0] Control Logic Address Register Reg. Reg. Reg. 18 19 18 36 Wri te 18 BWS 0 Vr e f Write Add.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 3 of 19 Pin Configuration 165-ball FBGA (13 x 15 x 1.4 mm ) Pinout CY7C1303BV25 (1M x 18 ) 1 2 3456 7 8 9 1 0 1 1 A NC Gnd/ 144M NC/ 36M WP.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 4 of 19 Pin Definitions Name I/O Description D [x:0] Input- Synchronous Data input signals, sampled on the rising edge of K and K clocks during valid write opera- tions. CY7C1303BV25 – D [17:0] CY7C1306BV25 – D [35:0] WPS Input- Synchronous Write Port Select, active LOW .
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 5 of 19 Introduction Functional Overview The CY7C1303BV25/CY7C1306BV25 are synchro nous pipelined Burst SRAM equ ipped with both a Read port an d a Write port. The Read port is dedicated to Read operations and the Write port is dedicated to Write operations.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 6 of 19 operation is identi cal to the operation if the device had zero skew between the K/K and C/C clocks. All timing parameters remain the same i n thi s mo de . T o use this mode of ope r a ti on , the user must tie C and C HIGH at power-up.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 7 of 19 Write Desc riptions (CY7C1303BV25) [2 , 8] BWS 0 BWS 1 KK Comment s L L L-H - During the Data portion of a W ri te sequence, both bytes (D [17:0] ) are written into the device.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 8 of 19 IEEE 1 149.1 Serial Boundary Scan (JT AG) These SRAMs incorporate a serial bo undary scan test access port (T AP) in the FBGA package. This part is fully compliant with IEEE S tandard #1 149.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 9 of 19 is loaded into the instruction register upon power-up or whenever the T AP controller is given a test logic reset state.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 10 of 19 T AP Controller S tate Diagram [9] Note: 9. The 0/1 next to each state re present s the value at TMS at the rising edge of TCK.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 1 1 of 19 T AP Controller Block Diagram T AP Electrical Characteristi cs Over the Operating Rang e [10, 14, 17] Parameter Description T est Conditions Min. Max. Unit V OH1 Output HIGH V oltage I OH = − 2.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 12 of 19 Output Times t TDOV TCK Clock LOW to TDO V alid 20 ns t TDOX TCK Clock LOW to TDO Invalid 0 ns T AP T iming and T est Conditions [1 2] T AP AC Switching Characte ristics Over the Operating Range [1 1, 12] (continued) Parameter Description Min.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 13 of 19 Scan Register Sizes Register Name Bit Size Instruction 3 Bypass 1 ID 32 Boundary Scan 107 Instruction Codes Instruction Code Description EXTEST 000 Captures the In put/Output ring contents.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 14 of 19 Boundary Scan Order Bit # Bump ID Bit # Bump ID Bit # Bump ID Bit # Bump ID 0 6R 27 11 H 54 7B 81 3G 1 6P 28 10G 55 6B 82 2G 2 6N .
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 15 of 19 Maximum Ratings (Above which the useful life may be impaired.) S torage T emperature ............. .............. ..... –65°C to + 150°C Ambient T emperature with Power Applied .
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 16 of 19 Cap acit ance [23] Parameter Description T est Conditions Max. Unit C IN Input Capacitance T A = 25°C, f = 1 MHz, V DD = 2.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 17 of 19 Switching W aveforms [25, 26, 27] Notes: 24. t CHZ , t CLZ , are sp ecifie d with a load capacit ance of 5 pF as in part (b) of AC T est Loads. Transition is m easured ± 100 mV from steady-st ate voltag e.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 18 of 19 © Cypress Semi con duct or Cor po rati on , 20 06 . The information con t a in ed he re i n is su bject to change wi t hou t n oti ce.
CY7C1306BV25 CY7C1303BV25 Document #: 38-05627 Rev . *A Page 19 of 19 Document History Page Document Title: CY7C1303BV25/CY7C1306BV25 18 -Mbit Burs t of 2 Pipelined SRAM with QDR™ Architecture Document Number: 38-05627 REV . ECN NO. Issue Date Orig.
デバイスCypress CY7C1306BV25の購入後に（又は購入する前であっても）重要なポイントは、説明書をよく読むことです。その単純な理由はいくつかあります：
Cypress CY7C1306BV25をまだ購入していないなら、この製品の基本情報を理解する良い機会です。まずは上にある説明書の最初のページをご覧ください。そこにはCypress CY7C1306BV25の技術情報の概要が記載されているはずです。デバイスがあなたのニーズを満たすかどうかは、ここで確認しましょう。Cypress CY7C1306BV25の取扱説明書の次のページをよく読むことにより、製品の全機能やその取り扱いに関する情報を知ることができます。Cypress CY7C1306BV25で得られた情報は、きっとあなたの購入の決断を手助けしてくれることでしょう。
Cypress CY7C1306BV25を既にお持ちだが、まだ読んでいない場合は、上記の理由によりそれを行うべきです。そうすることにより機能を適切に使用しているか、又はCypress CY7C1306BV25の不適切な取り扱いによりその寿命を短くする危険を犯していないかどうかを知ることができます。
ですが、ユーザガイドが果たす重要な役割の一つは、Cypress CY7C1306BV25に関する問題の解決を支援することです。そこにはほとんどの場合、トラブルシューティング、すなわちCypress CY7C1306BV25デバイスで最もよく起こりうる故障・不良とそれらの対処法についてのアドバイスを見つけることができるはずです。たとえ問題を解決できなかった場合でも、説明書にはカスタマー・サービスセンター又は最寄りのサービスセンターへの問い合わせ先等、次の対処法についての指示があるはずです。
